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菲希爾鍍層測厚儀XULM240產品信息
點擊次數：368 更新時間：2025-04-27 打印本頁面 返回
菲希爾XULM240 FISCHER代理核心測量性能
菲希爾X射線測厚儀XULM240寬泛量程與高精度
可測量從超薄鍍層（如50nm金層）到厚鍍層（如100μm錫層）
標準校準下精度達±5%（如Au層＞0.1μm時），無校準模式精度±10%
重復精度優異，例如80nm金層的重復性誤差僅±2.5nm
微區測量能力
微聚焦X射線管設計，最小測量點達100μm（0.09×0.09mm2），適合連接器、PCB微線路等微小結構
比例計數器支持高達數千cps的計數率，提升測量效率
多層與合金分析
支持單層、雙層（含合金層）、三層鍍層測量（如Cr/Ni/Cu/ABS）
通過基本參數法（FP法）無需標準片即可分析固態/液態樣品成分
