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菲希爾金屬X射線測厚儀簡介
點擊次數(shù)：310 更新時間：2025-06-09 打印本頁面 返回
菲希爾 X 射線測厚儀XDL230憑借高精度與可靠性，在多個工業(yè)領(lǐng)域發(fā)揮關(guān)鍵作用。其典型應(yīng)用場景包括大規(guī)模生產(chǎn)的電鍍部件厚度檢測，裝飾鉻等超薄涂層的精確測量，電子及半導體工業(yè)功能性鍍層的質(zhì)量把控，印刷線路板的全自動快速測量，以及電鍍?nèi)芤撼煞址治觥?/p>
FISCHERSCOPE X-RAY XDL 系列是專為滿足多樣化需求設(shè)計的界面友好型臺式測量儀器，依據(jù)使用場景不同，推出了多種型號。其中，XDL 210 型配備固定式工作臺與固定位置的 Z 軸系統(tǒng)；XDL 220 型同樣為固定式工作臺，但采用了馬達驅(qū)動的 Z 軸系統(tǒng)，提升操作便利性；XDL 230 型搭載可手動操控的 X/Y 工作臺，搭配馬達驅(qū)動的 Z 軸升降系統(tǒng)，適用于更復雜的測量需求；XDL 240 型則擁有全自動化優(yōu)勢，其馬達驅(qū)動的 X/Y 工作臺在保護門開啟時，會自動移動至樣品放置位置，且配備可編程的馬達驅(qū)動 Z 軸升降系統(tǒng)，極大提高了測量效率與自動化程度 。
