技術文章首頁 > 技術文章 > 全部文章
菲希爾XDL210 X射線測厚儀信息
點擊次數：377 更新時間：2025-06-26 打印本頁面 返回
核心技術，精準測量
菲希爾 XDL210 X射線測厚儀運用先進的 X 射線熒光光譜法，實現對鍍層厚度的精準測量。這種無損檢測方式，不僅能確保樣品的完整性，更通過自動聚焦功能，將測量準確性提升到新的高度。無論是汽車發動機零部件、航空航天金屬結構件，還是電子設備外殼等，在大規模生產的電鍍部件鍍層檢測中，XDL210 都能精準給出厚度數據，為質量控制提供堅實保障。其元素測量范圍涵蓋 Cl（17）-U（92），最多可同時測量 24 種元素、23 層鍍層，復雜鍍層結構也能輕松應對。
強大硬件，適配多樣需求
硬件性能是菲希爾 XDL210 X射線測厚儀的又一亮點。其動 X/Y 平臺移動范圍≥95x150mm，可用工作臺面≥420x450mm，足以滿足多樣品放置與測量需求，無論是小型零部件還是較大尺寸的樣品，都能在工作臺上穩定就位。電動 Z 軸支持手動 / 自動聚焦，移動范圍≥140mm，可適配不同高度樣品，測量過程更加靈活便捷。測量距離補償法（DCM）技術的運用，使其可實現 80mm 深度的腔體樣品遠距離對焦測量，對于已布元器件的電路板或腔體結構部件的測試，表現出色。可變高壓支持 30KV、40KV、50KV 三檔調節，配合 φ0.3 的圓形準直器（還有多種規格可選），以及穩定的比例接收器 X 射線探測器，無論何種測試場景，XDL210 都能精準捕捉信號，保證測量精度。高分辨率 CCD 攝像頭，放大倍數 40 - 160 倍，沿初級 X 射線光束方向觀察測量位置，手動聚焦、十字線（帶有經過校準的刻度和測量點尺寸）、可調節亮度的 LED 照明，以及激光光點定位，讓樣品觀察與定位變得輕而易舉。
