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X 射線測厚儀 Fischerscope X-RAY測厚儀信息
點擊次數:41 更新時間:2025-07-29 打印本頁面 返回

菲希爾 X 射線測厚儀 Fischerscope X-RAY 的典型應用領域較為廣泛,除了題干中提及的內容外,還包括以下方面:

電子與半導體行業:可測量電子元件上的功能性鍍層厚度,如金、鈀等鍍層,常用于檢測連接器、引線框架、印刷電路板(PCB)上的鍍層,確保產品質量和性能。還能分析復雜多層涂層系統,以及根據 RoHS、WEEE、CPSIA 等指令對電子產品中的有害物質進行痕量分析,如檢測塑料中的鉛、鎘等元素。

光伏行業:可用于測量太陽能電池薄膜的厚度,如 CIGS、CIS、CdTe 和 CdS 等薄膜層的厚度測量,以及這些薄膜層的成分分析。還能在連續生產過程中進行涂層厚度控制和工藝監測,確保光伏產品的質量和性能穩定。

手表和珠寶行業:可用于分析黃金和其他貴金屬及其合金的成分,確定其純度,還能測量珠寶首飾上鍍層的厚度,如裝飾性鍍層或保護性鍍層,幫助鑒定珠寶品質和真偽。

小型零件檢測:通過選配便攜式智能箱,可將 XAN500 型變為小型臺式測量設備,用于檢測小型樣品,如螺母、螺栓等批量生產的小型零件的鍍層厚度和材料成分,確保產品符合質量標準。

裝飾性涂層檢測:可對裝飾性鉻涂層,如鉻 / 鎳 / 銅 / ABS 等進行厚度測量和成分分析,常用于汽車內飾件、家具五金等表面裝飾涂層的質量檢測,保證產品的美觀和耐用性。


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