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泰勒霍普森粗糙度儀PK-01測針信息
點擊次數：309 更新時間：2025-08-01 打印本頁面 返回
泰勒·霍普森（Taylor Hobson）作為精密測量領域者，開發了一系列高精度測針，以滿足不同工業應用中的復雜測量需求。其中，PK-01小孔測針專為端條件下的精密測量而設計，特別適用于測量小孔、溝槽以及狹窄或難以接觸的表面。
PK-01小孔測針主要特點：
超細測針端：提供測針半徑低至 2μm 的版本，能夠深入微小孔洞和狹縫，實現納米級精度測量。
深孔測量能力：具備測量深達70mm的孔深能力，適用于深孔粗糙度或輪廓檢測。
靈活的測量配置：
配備50mm長測針升降裝置，便于調節測針位置。
支持直角附件，可在空間受限的環境中進行橫向或垂直測量。
測針支持翻轉向上測量，適應倒置或復雜幾何表面的檢測需求。
穩定支撐系統：采用防滑V型腳架設計，確保儀器在光滑或彎曲表面上依然保持穩定，無需額外夾具或昂貴的支撐工裝。
全表面適應性：可在任意表面和不同高度進行測量，極大提升了現場檢測的靈活性和效率。
標準配置包含：
顯示單元
112-1502 標準測針
測針連接線
多刻線樣板（用于校準和驗證）
測針提升機構
USB接口充電器
使用手冊
USB通訊電纜
儀器箱（便于攜帶和保護設備
