FischerScope MMS PC2自動(dòng)化測(cè)量膜厚

Fischer測(cè)厚儀

• 只需使用一臺(tái)儀器就可以完成涂鍍層厚度測(cè)量以及材料測(cè)試!
• 堅(jiān)實(shí)且極為通用的臺(tái)式多功能測(cè)量系統(tǒng),具有保存數(shù)據(jù)和處理測(cè)量數(shù)據(jù)的功能.
• 便于用戶操作的寬大高分辨率 LCD 觸摸屏,基于Windows CE設(shè)計(jì)。.
• 眾多不同的嵌入式測(cè)量模塊,可進(jìn)行大量不同的設(shè)備配置以滿足客戶要求。模塊化設(shè)計(jì)允許在任何時(shí)候進(jìn)行儀器升級(jí)。根據(jù)應(yīng)用可以安裝相似或不同的測(cè)量模塊
• 嵌入式模塊 BETASCOPE, SIGMASCOPE, PHASCOPE, DUPLEX, NICKELSCOPE,SR-SCOPE 和 PERMASCOPE采用了各種物理測(cè)試原理,詳情參見(jiàn)產(chǎn)品說(shuō)明.
• 可連接多達(dá)八個(gè)測(cè)量探頭
• 各種不同的探頭,用于被測(cè)樣品不同的幾何形狀和厚度范圍
• 隨儀器附送計(jì)算機(jī)端軟件,其擁有以下功能:傳輸保存測(cè)量值,全面的統(tǒng)計(jì)性和圖形化評(píng)估,輕松生成并打印檢驗(yàn)報(bào)告

FISCHERSCOPE MMS涂層測(cè)厚儀是一臺(tái)小巧和極其多用的的臺(tái)式多功能測(cè)量系統(tǒng)，有數(shù)據(jù)存儲(chǔ)及數(shù)據(jù)處理能力。模塊化的設(shè)計(jì)使用戶可以自己配置不同的測(cè)試模塊。有六種基本的模塊：

FISCHERSCOPE MMS PEMASCOPE涂層測(cè)厚儀
FISCHERSCOPE MMS NICKELSCOPE涂層測(cè)厚儀
FISCHERSCOPE MMS SIGMASCOPE涂層測(cè)厚儀
FISCHERSCOPE MMS DUPLEX涂層測(cè)厚儀
FISCHERSCOPE MMS PC涂層測(cè)厚儀B
FISCHERSCOPE MMS BETASCOPE 涂層測(cè)厚儀

模塊化設(shè)計(jì)可以在以后升級(jí)儀器到可用更多的方法進(jìn)行測(cè)量。FISCHERSCOPE MMS 適于涂鍍層厚度測(cè)量和材料性能統(tǒng)計(jì)。它可用于手動(dòng)檢測(cè)樣品，也可用于過(guò)程控制和生產(chǎn)過(guò)程的定時(shí)檢測(cè)。

FischerScope MMS PC2自動(dòng)化測(cè)量系統(tǒng)

 應(yīng)用場(chǎng)合

由于采用了多種測(cè)量方法，MMS 可用于電鍍廠，線路板生產(chǎn)廠，汽車(chē)和航空生產(chǎn)廠的多種應(yīng)用場(chǎng)合。

FISCHERSCOPE MMS涂層測(cè)厚儀的特點(diǎn)：

• 用于不同的應(yīng)用場(chǎng)合的模塊
• 大的LCD顯示和自定義功能鍵，用于與使用者的交互對(duì)話
• 觸覺(jué)反饋式鍵盤(pán)
• 所有的測(cè)試方法操作一致
• 學(xué)習(xí)測(cè)量，儲(chǔ)存，統(tǒng)計(jì)和存檔容易

FISCHERSCOPE MMS PERMASCOPE 涂層測(cè)厚儀適于測(cè)量：

• 鐵或鋼上的油漆，塑料，鋅，鉻等。
• 使用遵循DIN EN ISO 2178標(biāo)準(zhǔn)的磁感應(yīng)法測(cè)量銅，黃銅，鋁等材料上的油漆，塑料，陶瓷涂層。
• 使用遵循DIN EN ISO 2360標(biāo)準(zhǔn)的渦流法。
•  有多種適合不同形狀的試樣和測(cè)量范圍的探頭可供選擇。

?

FischerScope MMS PC2自動(dòng)化測(cè)量系統(tǒng)

在運(yùn)行的生產(chǎn)線中，無(wú)論您是需要進(jìn)行 100%全檢還是隨機(jī)抽樣檢測(cè)涂鍍層厚度：FISCHER 均可提供滿足您需求的測(cè)量?jī)x器。我們的所有儀器專(zhuān)為在生產(chǎn)過(guò)程中進(jìn)行快速、準(zhǔn)確的測(cè)量而設(shè)計(jì)。FISCHER 的 X 射線熒光儀器與接觸式測(cè)量?jī)x器均能通過(guò)不同的接口直接集成于各種生產(chǎn)環(huán)境中。

MMS PC2

采用不同測(cè)量技術(shù)的模塊化系統(tǒng)：非常適用于與涂鍍層厚度測(cè)量和材料測(cè)試相關(guān)的各種需求。

X-RAY 4000

用于帶狀材料或卷材上鍍層測(cè)試的在線測(cè)量系統(tǒng)。在生產(chǎn)過(guò)程和質(zhì)量管理系統(tǒng)中實(shí)現(xiàn)無(wú)縫集成。

X-RAY 5000

X 射線熒光儀器采用模塊化設(shè)計(jì)，可集成至生產(chǎn)線中（如：龍門(mén)架上）。非常適合測(cè)量大型表面上較薄的鍍層。

X-RAY XDV-µ SEMI