現貨供應Fischer DualScope FMP40的詳細資料：

現貨供應Fischer DualScope FMP40

德國Fischer測厚儀公司生產的儀器，全部采用了現階段zui的科學技術，渦流法與磁感應方法測量涂層厚度。

電渦流方法：
通過探頭的激勵電流產生一個高頻初級磁場區域，該磁場在基材內產生感生電渦流，次級磁場區域削弱初級磁場區域，削弱影響相當于探頭和基材之間的距離即涂鍍層的厚度，然后通過儲存在儀器內的探頭特征曲線將削弱影響轉換為涂鍍層厚度值顯示出來。

影響涂層測厚儀測量值精度的因素

　　1．影響因素的有關說明

　　a 基體金屬磁性質

　　磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響（在實際應用中，低碳鋼磁性的變化可以認為是輕微的），為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應使用與試件基體金屬具有相同性質的標準片對儀器進行校準；亦可用待涂覆試件進行校準。

　　b 基體金屬電性質

　　基體金屬的電導率對測量有影響，而基體金屬的電導率與其材料成分及熱處理方法有關。使用與試件基體金屬具有相同性質的標準片對儀器進行校準。

　　c 基體金屬厚度

　　每一種儀器都有一個基體金屬的臨界厚度。大于這個厚度，測量就不受基體金屬厚度的影響。本儀器的臨界厚度值見附表1。

　　d 邊緣效應

　　本儀器對試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內轉角處進行測量是不可靠的。

　　e 曲率

　　試件的曲率對測量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此，在彎曲試件的表面上測量是不可靠的。

　　f 試件的變形

　　測頭會使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上測出可靠的數據。

　　g 表面粗糙度

　　基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對測量有影響。粗糙程度增大，影響增大。粗糙表面會引起系統誤差和偶然誤差，每次測量時，在不同位置上應增加測量的次數，以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙，還必須在未涂覆的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個位置校對儀器的零點；或用對基體金屬沒有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后，再校對儀器的零點。

　　g 磁場

　　周圍各種電氣設備所產生的強磁場，會嚴重地干擾磁性法測厚工作。

　　h 附著物質

　　本儀器對那些妨礙測頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質敏感，因此，必須清除附著物質，以保證儀器測頭和被測試件表面直接接觸。

　　i 測頭壓力

　　測頭置于試件上所施加的壓力大小會影響測量的讀數，因此，要保持壓力恒定。

　　j 測頭的取向

　　測頭的放置方式對測量有影響。在測量中，應當使測頭與試樣表面保持垂直。

　　2．使用儀器時應當遵守的規定

　　a 基體金屬特性

　　對于磁性方法，標準片的基體金屬的磁性和表面粗糙度，應當與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。

　　對于渦流方法，標準片基體金屬的電性質，應當與試件基體金屬的電性質相似。

　　b 基體金屬厚度

　　檢查基體金屬厚度是否超過臨界厚度，如果沒有，可采用3.3中的某種方法進行校準。

　　c 邊緣效應

　　不應在緊靠試件的突變處，如邊緣、洞和內轉角等處進行測量。

　　d 曲率

　　不應在試件的彎曲表面上測量。

　　e 讀數次數

　　通常由于儀器的每次讀數并不*相同，因此必須在每一測量面積內取幾個讀數。覆蓋層厚度的局部差異，也要求在任一給定的面積內進行多次測量，表面粗造時更應如此。

　　f 表面清潔度

　　測量前，應清除表面上的任何附著物質，如塵土、油脂及腐蝕產物等，但不要除去任何覆蓋層物質