Fischer雙功能測厚儀DualScope FMP20/FMP40的詳細(xì)資料：

Fischer雙功能測厚儀DualScope FMP20/FMP40

良好的涂層厚度測量新一代成熟的便攜式儀器帶有可交換探頭，可以對(duì)涂層進(jìn)行非破壞性和高精度的測量。無論是制造過程中的質(zhì)量控制還是隨機(jī)抽樣或完整批次的檢測，這些用戶友好和靈活的儀器zui符合您的要求。使用模塊化設(shè)計(jì)，儀器和探頭可根據(jù)您的具體要求進(jìn)行。根據(jù)測量應(yīng)用從新的FMP系列中選擇合適的儀器（見表），并將其與廣泛的高精度測量探頭組合使用。特殊功能根據(jù)磁感應(yīng)法和/或渦流方式的無損涂層厚度測量自動(dòng)探頭和基材識(shí)別在新的堅(jiān)固外殼中的大對(duì)比度豐富的圖形顯示簡單的儀器操作和廣泛的評(píng)估功能，通用的測量選項(xiàng)USB與PC和打印??機(jī)進(jìn)行通信，用于FMP30和FMP40創(chuàng)新探針技術(shù)，具有高精度，擴(kuò)展的測量范圍和復(fù)雜形狀的大量選擇使用內(nèi)部探頭進(jìn)行測量FAI使用FTA3.3H制造過程后立即對(duì)發(fā)動(dòng)機(jī)活塞進(jìn)行質(zhì)量監(jiān)測探頭使用雙探針涂層涂層厚度測量。

Fischer雙功能測厚儀DualScope FMP20/FMP40

德國Fischer DualScope FMP20/FMP40 測厚儀采用了磁感應(yīng)和電渦流兩種方法，且具有自動(dòng)識(shí)別基材的功能，這臺(tái)通用型儀器可以測量鐵/鋼上、非磁性金屬基材上和非導(dǎo)電基材上眾多涂鍍層的厚度。

DUALSCOPE FMP40 擁有自動(dòng)識(shí)別基材材料并且集成了兩種測量方法的強(qiáng)大功能，使得此款系列的儀器可以測量鋼材和鐵材或者是非鐵磁基材上的大部分涂鍍層的厚度。由于集合了兩種測量方法，這系列型號(hào)儀器還能夠在一次測量過程中同時(shí)測得兩層涂鍍層的厚度（油漆層/鋅層），并且分別顯示出來。DUALSCOPEFMP40配備有一個(gè)高清的和便于讀取的液晶顯示器。

DualScope FMP40高精度測厚儀*選擇-基本參數(shù)：

磁感應(yīng)方法：
通過探頭的激勵(lì)電流產(chǎn)生一個(gè)低頻磁場區(qū)域，該磁場的強(qiáng)度取決于涂鍍層厚度并經(jīng)磁性基材放大。測量線圈捕獲這個(gè)放大信號(hào)，然后通過儲(chǔ)存在儀器內(nèi)的探頭特征曲線將信號(hào)轉(zhuǎn)換為涂鍍層厚度。
應(yīng)用：鋅、鉻、銅等電鍍層或涂覆或噴濺上去的非磁性鍍層或油漆、塑料等涂層在鋼和鐵上。
電渦流方法：
通過探頭的激勵(lì)電流產(chǎn)生一個(gè)高頻初級(jí)磁場區(qū)域，該磁場在基材內(nèi)產(chǎn)生感生電渦流，次級(jí)磁場區(qū)域削弱初級(jí)磁場區(qū)域，削弱影響相當(dāng)于探頭和基材之間的距離即涂鍍層的厚度，然后通過儲(chǔ)存在儀器內(nèi)的探頭特征曲線將削弱影響轉(zhuǎn)換為涂鍍層厚度值顯示出來。

菲希爾測厚儀能夠自動(dòng)識(shí)別底材材料并且集成了兩種測量方法，使這個(gè)系列的儀器可以測量鋼材和鐵材亦或是非鐵磁基材上的大部分涂鍍層的厚度。由于集合了兩種測量方法，這個(gè)系列的儀器還能夠在一次測量過程中同時(shí)測得兩層涂鍍層的厚度（油漆層/鋅層），并且分別顯示出來。